通富微电申请半导体测试系统专利，可提高测试系统工作效率
金融界2024年9月18日消息，天眼查知识产权信息显示，通富微电子股份有限公司申请一项名为“半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统“，公开号CN202410669648.1，申请日期为2024年5月。
专利摘要显示，本公开涉及半导体测试领域，提供一种半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统，测试系统包括通讯连接的测试设备和搬运设备，方法包括：测试设备通过扫描测试工单生成测试程序调用指令和控制参数调用请求指令，将二者分别发至测试程序服务器和搬运设备，接收测试程序服务器基于测试程序调用指令发送的测试程序；搬运设备将基于控制参数调用请求指令生成的控制参数调用指令发至搬运设备参数服务器，接收搬运设备参数服务器基于该指令发送的设备控制参数；测试设备基于测试程序对测试工单包括的半导体器件进行测试，搬运设备基于设备控制参数对半导体器件进行搬运。本公开可消除测试程序与搬运设备控制参数不匹配的风险，提高测试系统工作效率。
本文源自金融界
联动科技：自主研发的功率半导体测试系统实现了进口替代
金融界8月1日消息，有投资者在互动平台向联动科技提问：你好，请问公司旗下半导体封测系统是否可以实现国产替代？
公司回答表示：公司坚持创新驱动发展的战略，公司自主研发的功率半导体测试系统实现了进口替代。
本文源自金融界AI电报
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